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美建成世界上首個(gè)測量單個(gè)分子質(zhì)量的裝置

發(fā)布時(shí)間:2012-10-23 作者: 來源:科技部 瀏覽:902113

      據(jù)美國國家科學(xué)基金會(NSF)報(bào)道,美國加州理工學(xué)院的研究小組完成了世界上首個(gè)可以測量單個(gè)分子質(zhì)量的機(jī)械裝置。
      該校的研究人員表示,這項(xiàng)新技術(shù)將能用于診斷疾病,幫助生物學(xué)家探索病毒與細(xì)胞的分子機(jī)制,甚至可以用于更好地檢測納米粒子和空氣污染。該研究團(tuán)隊(duì)包括在加州理工學(xué)院的Kavli納米科學(xué)研究所以及法國CEA研究所的研究人員。這項(xiàng)技術(shù)的研發(fā)細(xì)節(jié)及CEA-LETI納米器件設(shè)備等相關(guān)內(nèi)容,發(fā)表在8月26日的 Nature Nanotechnology 雜志上。
      這個(gè)新裝置并不大,僅有幾百萬分之一米大小,由小型、振動的橋狀結(jié)構(gòu)組成。當(dāng)一個(gè)粒子或分子進(jìn)入這座“橋”,其質(zhì)量變化引起的振蕩頻率就揭示了粒子的重量。該新裝置利用標(biāo)準(zhǔn)半導(dǎo)體制造技術(shù)制成,成本優(yōu)勢與過程的可重復(fù)性特點(diǎn),使得其商業(yè)化生產(chǎn)的可能性大大提高。 


 

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