Cascade Microtech推出M150測量平臺 (2006-04-28)
發(fā)布時間:2007-12-04
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Cascade Microtech宣布推出具備高效能測量能力的M150測試平臺,該平臺可針對半導(dǎo)體晶圓、IC、PCB、MEMS與生物科學(xué)等組件的單一測量,提供從DC到220GHz的廣泛可供應(yīng)性與可組態(tài)性、彈性化與多元化的150mm組件測試。
M150測試平臺并可針對客戶的不同應(yīng)用快速轉(zhuǎn)換,或經(jīng)由客戶重新組態(tài),并透過可替換標準組件與附件最佳化來滿足特定測量需求,以大幅節(jié)省因個別應(yīng)用而需購置新測量平臺的成本。M150并能協(xié)助客戶解決功耗、操作頻率、訊號隔離、訊號完整性與通路頻寬等組件問題。
Cascade Microtech的新款M150測試平臺可用于半導(dǎo)體晶圓廠、生產(chǎn)部門、故障分析、制程工程及組件塑型;進行III-V合成半導(dǎo)體制程特征化,如砷化鎵、硅鍺,以及針對射頻的磷化銦、微波及毫米波應(yīng)用;PCB板上的訊號完整性及高速互聯(lián)問題;或針對如實驗室芯片、微流體、有機晶體管、polytec神經(jīng)元、MEMS組件及其它生物結(jié)構(gòu)等應(yīng)用進行精確定位、導(dǎo)航及分析檢視;以及應(yīng)用于全球各大學(xué)研究中心進行半導(dǎo)體組件與處理器之研發(fā)。
M150測試平臺完全兼容于Cascade Microtech L系列的Microfluidics度量系統(tǒng),并被運用為針對所有L系列的生命科學(xué)應(yīng)用平臺。M150測試平臺并提供兩種采購方式,藉由針對DC、RF、故障分析、PCB測試或毫米波封裝,選擇特定應(yīng)用的預(yù)先組態(tài)封裝之一,以及針對客戶應(yīng)用建立的客制化系統(tǒng)。