7月13日，美國(guó)熱電集團(tuán)向外界宣布：在即將召開(kāi)的“2004顯微鏡和顯微分析研討會(huì)”上（8月1日~5日，喬治亞洲的薩凡納市），熱電集團(tuán)將展示該公司最新推出的顯微分析產(chǎn)品及其軟件。新產(chǎn)品將導(dǎo)致在分析方法方面的重大進(jìn)步并能顯著提高實(shí)驗(yàn)室的分析測(cè)試能力。 研討會(huì)上，熱電集團(tuán)將展出最新的UltraDry? 硅漂移檢測(cè)器，該檢測(cè)器采用了無(wú)液氮技術(shù)，可應(yīng)用在高通量的能量色散譜儀(EDS)上。該型儀器具有極高的計(jì)數(shù)速率和分辨率，且采用了硅漂移技術(shù)，對(duì)輕元素檢測(cè)（在高計(jì)數(shù)速率下可檢測(cè)至碳）有很高的靈敏度。無(wú)液氮冷卻技術(shù)使UltraDry能夠在無(wú)振狀態(tài)下運(yùn)行，且大大降低了操作費(fèi)用。 該款儀器的另一項(xiàng)創(chuàng)新是具有從多個(gè)檢測(cè)器同時(shí)獲得數(shù)據(jù)的能力，這樣就把數(shù)據(jù)采集的時(shí)間減少了一半。通過(guò)把多個(gè)檢測(cè)器置于一套NORAN?系統(tǒng)SIX分析儀中，這樣就可以使用戶(hù)選擇使用不同類(lèi)型的X射線(xiàn)檢測(cè)器。譬如，用戶(hù)現(xiàn)在可以使用熱電全新的UltraDry硅漂移檢測(cè)器采集大量的數(shù)據(jù)，然后再在更低光量條件下使用液氮冷卻的檢測(cè)器獲得數(shù)據(jù)，所有的這一切都可以在一套X射線(xiàn)顯微分析系統(tǒng)上完成。 此外，新的軟件選項(xiàng)增強(qiáng)了X射線(xiàn)面分布成像功能以及熱電集團(tuán)獨(dú)有的COMPASS組分萃取工具。該萃取工具可以使用戶(hù)萃取出化學(xué)獨(dú)特相，并通過(guò)數(shù)據(jù)處理生成實(shí)際的相分布圖和光譜圖。這一進(jìn)步簡(jiǎn)化了從光譜成像數(shù)據(jù)中鑒別出化學(xué)獨(dú)特相的過(guò)程。 根據(jù)當(dāng)前用戶(hù)的反饋,熱電集團(tuán)在NORAN系統(tǒng)SIX軟件中也加入了全新的用于分析的內(nèi)置工具包，包括一個(gè)Adobe? Photoshop?格式的“魔棒”區(qū)域選擇工具，還有在等尺寸的圖形上作等值線(xiàn)的工具。在研討會(huì)上，熱電集團(tuán)還將同時(shí)展示可整合分別從NORAN系統(tǒng)SIX和基于HKL技術(shù)的EBSD獲得的元素?cái)?shù)據(jù)的全新技術(shù)。