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安捷倫科技推出全新離子阱質(zhì)譜儀 (2004-04-08)

發(fā)布時(shí)間:2007-12-04 作者: 來(lái)源:儀器信息網(wǎng) 瀏覽:2617
3月31日,安捷倫科技宣布一款代表安捷倫最高水平的離子阱質(zhì)譜??LC/MSD Trap XCT預(yù)計(jì)將于今年7月正式投放市場(chǎng)。安捷倫科技離子阱質(zhì)譜產(chǎn)品經(jīng)理Ken Imatani介紹說(shuō),此款儀器采用了非線性離子阱質(zhì)譜技術(shù),靈敏度較其前一代同類(lèi)產(chǎn)品提高了4倍。該型質(zhì)譜可廣泛應(yīng)用于諸如新藥開(kāi)發(fā)、疾病研究過(guò)程中的生物標(biāo)記鑒別等領(lǐng)域。LC/MSD Trap XCT采用了全新的檢測(cè)器技術(shù)和改進(jìn)后的生產(chǎn)工藝,對(duì)于利血平的檢測(cè)靈敏度可達(dá)250飛克。
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